MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 光学薄膜绝对反射率的高精度测量技术研究/孙国斌著 弥谦指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2008
- ISBN及定价:
- /缴送
- 载体形态项:
- 55页;28cm
- 个人责任者:
- 孙国斌 著
- 个人次要责任者:
- 弥谦 指导
- 非控制主题词:
- 绝对反射率 积分球 扫描振镜 光电池 锁相放大器
- 中图法分类号:
- O484.4
- 学位论文附注:
- 硕士论文--西安工业大学光电学院，2008
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