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题名/责任者:

超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统/(美)Michael L.Bushnell, (美)Vishwani D.Agrawal著 蒋安平, 冯建华, 王新安译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2005

ISBN及定价:

7-121-01490-4/CNY58.00

载体形态项:

16,511页;26cm

并列正题名:

Essentials of Electronic Testing:For Digital Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits

其它题名:

数字、存储器和混合信号系统

丛编项:

国外电子与通信教材系列

个人责任者:

(美) Bushnell Michael L. 著

个人责任者:

(美) Agrawal Vishwani D. 著

个人次要责任者:

蒋安平 译

个人次要责任者:

冯建华 译

个人次要责任者:

王新安 译

学科主题:

超大规模集成电路-测试-教材

中图法分类号:

TN470.7

版本附注:

本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权出版

提要文摘附注:

本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。

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