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题名/责任者:

SoC设计与测试/(美)Rajsuman,Rochit著 于敦山, 盛世敏, 田泽译

出版发行项:

北京:北京航空航天大学出版社,2003

ISBN及定价:

7-81077-308-9/CNY35.00

载体形态项:

210页:图;26cm

并列正题名:

System-on-a-chip : design and test

个人责任者:

Rajsuman,Rochit 美 著

个人次要责任者:

于敦山 译

个人次要责任者:

盛世敏 译

个人次要责任者:

田泽 译

学科主题:

单片微型计算机-系统设计

学科主题:

单片微型计算机

学科主题:

系统设计

中图法分类号:

TP368.1

一般附注:

并列题名：System-on-a-chip : design and test

题名责任附注:

书名原文：System-on-a-chip : design and test

版本附注:

美国Advantest America R&D Center, Inc.公司授权出版

责任者附注:

R. 雷斯曼[Rochit Rajsuman]，在Colorado State University获得电子工程博士学业位后，在Case Weslern Resere University的计算机工程与科学系执教近7年，著有《Digital Hardware Testing》等。

提要文摘附注:

本书分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法，在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计和需要注意的问题。

使用对象附注:

读者对象：ASIC设计工程师及系统设计工程师

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