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题名/责任者:

粉末衍射法测定晶体结构.下册/梁敬魁著

出版发行项:

北京:科学出版社,2003

ISBN及定价:

7-03-010995-3/CNY34.00

载体形态项:

396-854页;20cm

丛编项:

应用物理学丛书/吴自勤,杨国桢主编

个人责任者:

梁敬魁 著

学科主题:

粉末衍射法-晶体结构测定

中图法分类号:

O723

提要文摘附注:

材料科学是多学科交叉和渗透的结果。晶体结构是了解固体材料性质的重要基础，Ｘ射线粉末衍射法是提供有关晶体结构信息的主要方法之一。本书除了扼要介绍Ｘ射线衍射的晶体学基础，化合物结构的晶体化学基本概念，Ｘ射线粉末衍射的实验方法，以及衍射线的位置，峰形和强度的测定外，比较系统全面地论述了粉末衍射图谱的指标化，点阵常数的精确测量，粉末衍射测定新型化合物晶体结构的各种方法及其Ｒｉｅｔｖｅｌｄ法修正，固溶体类型与超结构的测定，以及键价理论在晶体结构分析中的应用。重点阐述粉末衍射结构分析从头计算方法。

使用对象附注:

读者对象：X射线晶体学和材料科学科技工作者，高等院校有关专业师生

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