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题名/责任者:

软件子系统测试/(美)马瑞克(Marick, B.)著 韩柯译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2003

ISBN及定价:

7-111-12794-3/CNY55.00

载体形态项:

472页;24cm

并列正题名:

The Craft of Software Testing:Subsystem Testing,Including Object-Based and Object-Oriented Testing

丛编项:

软件工程技术丛书.测试系列

个人责任者:

马瑞克 B. 著

个人次要责任者:

韩柯 译

学科主题:

软件-测试

中图法分类号:

TP311.5

一般附注:

并列题名：The Craft of Software Testing:Subsystem Testing,Including Object-Based and Object-Oriented Testing

版本附注:

本书中文简体字版由美国Pearson Education培生教育集团授权机械工业出版社出版。

责任者附注:

Brian Marick，软件测试专家，1992年月日创立了测试基金会和www,testing.com网站，目前致力于“敏捷测试”的研究。

提要文摘附注:

本书内容分：基本手段、实施子系统测试、实践中的子系统测试、举例与扩展、测试需求的乘积和附录六部分，系统地给出了子系统测试目标和分类，有针对性地给出具体的测试方法和思路。

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