西安工业大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

X射线荧光光谱分析/吉昂...[等]编著

出版发行项:

北京:科学出版社,2003

ISBN及定价:

7-03-010868-X/CNY29.00

载体形态项:

295页;26cm

丛编项:

中国科学院研究生教学丛书

个人责任者:

吉昂 编著

个人责任者:

陶光仪 编著

个人责任者:

卓尚军 编著

个人责任者:

罗立强 编著

学科主题:

X射线荧光光谱法:荧光分析-研究生-教材

中图法分类号:

O657.34

提要文摘附注:

本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对近年来提出的半定量分析、簿膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散x射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。本书中附有常用的基本参数数据。

使用对象附注:

读者对象：综合性大学及理工科院校化学及化学工程专业师生，X射线荧光光谱分析工作者和科研人员

豆瓣简介：