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题名/责任者:

存储测试系统的设计理论及其应用/张文栋[著]

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2002

ISBN及定价:

7-04-010432-6/CNY18.90

载体形态项:

172页:彩照;23cm

并列正题名:

Design Method of Storage Measurement and Its Application

个人责任者:

张文栋 著

学科主题:

信息存储-自动检测系统-研究

学科主题:

信息存储

学科主题:

自动检测系统

中图法分类号:

TP274

一般附注:

并列题名：Design Method of Storage Measurement and Its Application

责任者附注:

张文栋(1962～)，河南人，工学博士学位，清华大学博士后，现任华北工学院院长、教授、博士生导师，著有《存储测试系统的设计理论及其应用》。

提要文摘附注:

本书系统的研究了存储测试系统及其设计理论，提出了存储测试系统包括的基本要素，在综合分析研究多种存储测试系统设计规律基础上，提出了存储测试系统宏观设计原理和系统状态设计理论。

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