西安工业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：44

题名/责任者:
聚合物表面分析:X射线光电子谱(XPS)和静态次级离子质谱(SSIMS)/(英)布里格斯(Briggs, D.)著 曹立礼, 邓宗武译
出版发行项:
北京:化学工业出版社,2001
ISBN及定价:
7-5025-3397-4/19.00元
载体形态项:
197页:图;20cm
个人责任者:
布里格斯 D. 著
个人次要责任者:
曹立礼 译
个人次要责任者:
邓宗武 译
学科主题:
高聚物-工程材料-表面分析
中图法分类号:
TB324
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TB324/18 308342   内阅图书     可借
TB324/18 308343   未央馆     可借
TB324/18 308344   金花馆     可借
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架