西安工业大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

基于深度学习的光学元件表面缺陷检测技术研究/何礼著 田爱玲 教授 马黎钧 高工指导

出版发行项:

西安:西安工业大学,2023

ISBN及定价:

缴送

载体形态项:

71页;29cm

个人责任者:

何礼 著

个人次要责任者:

田爱玲 教授 指导

个人次要责任者:

马黎钧 高工 指导

非控制主题词:

光学元件；表面缺陷；显微暗场成像；深度学习；U2-Net卷积神经网络

中图法分类号:

TH

学位论文附注:

专业硕士学位论文——西安工业大学电子信息工程学院，2023

豆瓣简介：