MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 光腔衰荡法在半导体材料特性测量中的应用研究/魏晨阳著 侯宏录教授，王谦副教授指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2022
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 62页;29cm
- 个人责任者:
- 魏晨阳 著
- 个人次要责任者:
- 侯宏录教授 指导
- 个人次要责任者:
- 王谦副教授 指导
- 非控制主题词:
- 光学谐振腔；光腔衰荡法；掺杂浓度；载流子输运特性
- 中图法分类号:
- TN304
- 学位论文附注:
- 硕士学位论文——西安工业大学光电工程学院，2022
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