MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：18
- 题名/责任者:
- 特性像分析光学元件曲率半径测试技术研究/刘远鑫著 马卫红副教授，韩刚 高工指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2022
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 66页;29cm
- 个人责任者:
- 刘远鑫 著
- 个人次要责任者:
- 马卫红副教授 指导
- 个人次要责任者:
- 韩刚 高工 指导
- 非控制主题词:
- 光学测试；曲率半径；图像处理；特征值提取；清晰度评价
- 中图法分类号:
- TN2
- 学位论文附注:
- 专业硕士学位论文——西安工业大学光电工程学院，2022
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特种