MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:22
- 题名/责任者:
- 硬件电路与产品可靠性设计/朱波编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-302-61372-5/CNY69.00
- 载体形态项:
- 258页:图;24cm
- 个人责任者:
- 朱波 编著
- 学科主题:
- 硬件-电子电路-电子产品可靠性-电路设计
- 中图法分类号:
- TN702
- 提要文摘附注:
- 本书共分为6章:第1章是器件选型可靠性设计,讲述了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法;第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计;第3章梳理了产品的硬件测试,分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试;第4章叙述了PCB可靠性设计,讲解了PCB器件布局和PCB走线设计;第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计,重点讲解了产品研发各阶段的评审内容;第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例,讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN702/213 | CN1911841 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN702/213 | CN1911842 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 | |
TN702/213 | CN1911843 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息