MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：28
- 题名/责任者:
- 三维扫描测头解耦算法研究及精密检测电路开发/杨晶著 王洪喜，柴瑞林指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2021
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 67页;29cm
- 个人责任者:
- 杨晶 著
- 个人次要责任者:
- 王洪喜 指导
- 个人次要责任者:
- 柴瑞林 指导
- 非控制主题词:
- 三维扫描测头；耦合误差；ADA2200；精密检测电路
- 中图法分类号:
- TH7
- 学位论文附注:
- 专业硕士学位论文——西安工业大学机电工程学院，2021
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