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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:22

题名/责任者:
基于散射分布的光学元件表面缺陷反演研究/武雄骁著 王红军指导
出版发行项:
西安:西安工业大学,2021
ISBN及定价:
缴送
载体形态项:
63页;29cm
个人责任者:
武雄骁
个人次要责任者:
王红军 指导
非控制主题词:
表面缺陷;检测;散射;深度学习;反演
中图法分类号:
TH74
学位论文附注:
硕士学位论文——西安工业大学光电工程学院,2021
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TH74/147 759006472   特种     阅览 特种
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