MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：28
- 题名/责任者:
- 纳米级系统芯片单粒子效应研究/贺朝会[等]著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-03-067328-2/CNY98.00
- 载体形态项:
- 191页:图;24cm
- 个人责任者:
- 贺朝会 著
- 个人责任者:
- 杜雪成 著
- 个人责任者:
- 杨卫涛 著
- 个人责任者:
- 杜小智 著
- 学科主题:
- 集成芯片-单粒子态-研究
- 中图法分类号:
- TN430.3
- 题名责任附注:
- 题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智
- 书目附注:
- 有书目 (第181-191页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN430.3/1 | CN1882558 |  内阅图书
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阅览 | 内阅图书 | |
| TN430.3/1 | CN1882559 | 未央馆
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可借 | 未央馆 |
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