MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：31
- 题名/责任者:
- 纳米CMOS器件及电路的辐射效应/刘保军, 刘小强, 刘忠永著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-121-40841-0/CNY79.00
- 载体形态项:
- 253页:图;24cm
- 个人责任者:
- 刘保军, 1984- 著
- 个人责任者:
- 刘小强 著
- 个人责任者:
- 刘忠永 著
- 学科主题:
- 半导体器件-纳米材料
- 中图法分类号:
- TN303
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍辐射效应对纳米CMOS器件及其电路的影响，涵盖了各种辐射环境分析、电离损伤机理研究、纳米器件的总剂量效应和单粒子效应的建模仿真、辐射效应对纳米CMOS电路的影响等内容，综合考虑了器件特征尺寸缩减对辐射效应的影响，给出了纳电子器件及其电路的辐射效应的分析方法和思路。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN303/60 | CN1871170 |  内阅图书
|
阅览 | 内阅图书 | |
| TN303/60 | CN1871171 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 | |
| TN303/60 | CN1871172 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息