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- 题名/责任者:
- SiC功率器件的封装测试与系统集成/曾正著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2020
- ISBN及定价:
- 978-7-03-065700-8/CNY169.00
- 载体形态项:
- 285页:图;26cm
- 个人责任者:
- 曾正 著
- 学科主题:
- 功率半导体器件
- 中图法分类号:
- TN303
- 相关题名附注:
- 英文题名取自封面
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- SiC功率器件是电能变换的核心,是下一代电气装备的基础,在消费电子、智能电网、电气化交通、国防军工等领域,具有不可替代的作用。SiC功率器件的性能表征、封装测试和系统集成,具有重要的研究价值和应用前景。围绕SiC功率器件的基础研究和前沿应用,本书系统介绍了SiC功率器件的研究现状与发展趋势,分析了器件的电-热性能表征方法,阐述了器件的并联、串联、级联等扩容技术,介绍了器件的封装结构与封装工艺,给出了器件的多物理场模型和仿真方法,提出了器件的封装设计方法,总结了器件的封装失效机理,揭示了器件的并联电流分配规律,提出了器件的精确稳定测试方法,针对固态变压器、新能源汽车等新兴应用,构建了SiC功率器件的系统集成方法。
- 使用对象附注:
- 高校电力电子技术及相关专业本科生、研究生和教师,从事宽禁带器件研究的工程技术人员
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN303/58 | CN1848015 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN303/58 | CN1848016 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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