MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:36
- 题名/责任者:
- 深入理解微电子电路设计:电子元器件原理及应用/(美) 理查德·C. 耶格(Richard C. Jaeger), 特拉维斯·N. 布莱洛克(Travis N. Blalock)著 宋廷强译
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2020
- ISBN及定价:
- 978-7-302-55523-0/CNY89.00
- 载体形态项:
- xiv, 279页:图;26cm
- 并列正题名:
- Microelectronic circuit:principles and applications of electronic components
- 其它题名:
- 电子元器件原理及应用
- 丛编项:
- 清华开发者书库
- 个人责任者:
- (美) 耶格 (Jaeger, Richard C.) 著
- 个人责任者:
- (美) 布莱洛克 (Blalock, Travis N.) 著
- 个人次要责任者:
- 宋廷强 译
- 学科主题:
- 超大规模集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN470.2
- 版本附注:
- 译自原书第5版
- 出版发行附注:
- 本授权中文简体字翻译版由麦格劳-希尔教育出版公司和清华大学出版社有限公司合作出版
- 责任者附注:
- 理查德·C. 耶格, 美国佛罗里达大学电气工程专业博士, 奥本大学电气与计算机工程系教授。特拉维斯·N. 布莱洛克, 美国弗吉尼亚大学电气与计算机工程系教授。宋廷强, 青岛科技大学信息科学技术学院副院长兼大数据学院副院长。
- 提要文摘附注:
- 本书全面介绍了电子元器件的基础知识及其应用, 从电子元器件的分析与设计出发, 详细阐述了电子学的基本概念及分析原理, 让读者在掌握分压和分流原理、戴维南定理、放大器等概念的基础上, 深入理解半导体材料特性、二极管pn节特性、二极管SPICE模型、整流电路、场效应管及双极结型晶体管的特性。同时还讲解了元器件的容差数学模型及电路设计中常用的最差情况分析、蒙特卡洛分析等主要分析方法, 由浅入深地讲解了电子元器件电路相关电路的性能、分析及设计方法。
- 使用对象附注:
- 本书可以作为电子信息类、电气类专业本科生或研究生作为专业教材或参考书, 也可以作为从事固态电子学与器件、数字电路和模拟电路设计或开发的工程技术人员的参考资料
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN470.2/11 | CN1845583 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN470.2/11 | CN1845584 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息