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题名/责任者:

加速试验:统计模型、试验设计与数据分析/(美)韦恩·B·纳尔逊(Wayne B. Nelson)著 张正平，李海波等译

出版发行项:

北京:中国宇航出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-5159-1679-8 精装/CNY128.00

载体形态项:

XX,534页:图;27cm

并列正题名:

Accelerated testing:statistical models, test plans, and data analysis

其它题名:

统计模型、试验设计与数据分析

个人责任者:

纳尔逊 (Nelson, Wayne B.) 著

个人次要责任者:

张正平 译

个人次要责任者:

李海波 译

学科主题:

加速寿命试验

中图法分类号:

N33

版本附注:

由John Wiley & Sons, Inc.授予出版

出版发行附注:

航天科技图书出版基金资助出版

书目附注:

有书目(第512-534页）

提要文摘附注:

本书是美国可靠性领域著名专家Wayne B.Nelson博士撰写的关于加速试验设计与数据统计分析方面的经典著，系统介绍了加速试验的统计模型、试验方案设计方法和数据分析方法，并给出了大量的相关实例。

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