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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:43

题名/责任者:
互换性与测量技术基础/高丽, 于涛, 杨俊茹主编
出版发行项:
北京:北京理工大学出版社,2018
ISBN及定价:
978-7-5682-5243-0/CNY55.00
载体形态项:
208页:图;26cm
个人责任者:
高丽 主编
个人责任者:
于涛 主编
个人责任者:
杨俊茹 主编
学科主题:
零部件-互换性
学科主题:
零部件-测量技术
中图法分类号:
TG801
书目附注:
有书目 (第207-208页)
提要文摘附注:
本书包括绪论,测量技术基础,孔、轴公差与配合及其尺寸检测,几何公差及检测,表面粗糙度及检测,滚动轴承与孔轴结合的互换性,渐开线圆柱齿轮公差与检测,常用连接件公差与检测,圆锥公差以及尺寸链等共十章。
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