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题名/责任者:

电子元器件检验技术:测试部分/工业和信息化部电子第五研究所组编 王晓晗, 罗宏伟编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-121-33485-6/CNY98.00

载体形态项:

xi, 382页:图;26cm

其它题名:

测试部分

丛编项:

可靠性技术丛书

个人责任者:

王晓晗 编著

个人责任者:

罗宏伟 编著

团体次要责任者:

工业和信息化部电子第五研究所 组编

学科主题:

电子元器件-测试技术

中图法分类号:

TN606

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法, 同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概况总结。

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