- 题名/责任者:
- 光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用/王先培, 黄云光著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2017
- ISBN及定价:
- 978-7-03-053924-3/CNY78.00
- 载体形态项:
- 183页:图;26cm
- 个人责任者:
- 王先培 著
- 个人责任者:
- 黄云光 著
- 学科主题:
- 光谱分析-应用-地理信息系统-故障诊断
- 中图法分类号:
- P208.2
- 书目附注:
- 有书目 (第175-183页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容为GIS内部绝缘故障检测及诊断技术，分别设计局部放电、过热缺陷模型并搭建模拟故障平台，以开展两类故障下SF6分解特性对比实验。重点介绍光谱分析技术对SF6分解产物的定性定量检测，局部放电的故障诊断模型以及故障趋势估计建模，最终实现光谱分析技术的GIS故障统一预警。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| P208.2/32 | CN1772813 |  内阅图书
|
阅览 | 内阅图书 | |
| P208.2/32 | CN1772814 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 | |
| P208.2/32 | CN1772815 | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息