MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:25
- 题名/责任者:
- 用数字测量市场对专利的认知:原理、图表和实际应用/吴欣望, 朱全涛著
- 出版发行项:
- 北京:社会科学文献出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-5201-2471-3/CNY68.00
- 载体形态项:
- [28], 196页:图;24cm
- 丛编项:
- 创新市场理论后续研究;二
- 个人责任者:
- 吴欣望 著
- 个人责任者:
- 朱全涛 著
- 学科主题:
- 专利-经济效益-分析-研究
- 中图法分类号:
- G306.0
- 一般附注:
- 本书写作受教育部人文社会科学青年基金项目资助(编号:13YJC630182)
- 书目附注:
- 有书目 (第184-192页)
- 提要文摘附注:
- 本书介绍了获得描述专利效能特征的信息来源、现有的分析思路、主要的分析工具和存在的局限,从理论上考察新技术的效能特征对效用函数、需求曲线、生产函数、企业研发项目筛选和企业间竞争关系的基础上,构建了一个基于专利效能信息的企业技术选择模型。介绍了将效能信息引入多种图形分析工具中的方法和示例,以及如何将专利引证信息和效能信息结合起来用于解决实际问题。在用测量出来的具有连续特征的效能值替代过于粗略的0-1赋值的基础上,介绍了一种新型专利地形图的构建思路、方法和案例。介绍了如何利用专利效能信息来提高专利价值评估的可靠性。考察了专利效能信息在企业管理中的应用。考察了专利效能信息在企业战略管理、企业竞争策略、研发活动和并购决策中的若干应用。介绍了专利效能信息在技术交易和运营、风险投资项目筛选和风险企业动态管理中的应用。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
G306.0/1 | CN1542647 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
G306.0/1 | CN1542648 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 | |
G306.0/1 | CN1542649 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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