MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：31
- 题名/责任者:
- 荧光偏振分子印迹检测系统的研究/赵阳著 倪原指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2016
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 73页;29cm
- 个人责任者:
- 赵阳 著
- 个人次要责任者:
- 倪原 指导
- 非控制主题词:
- 荧光偏振；分子印迹；Visual Basic 6.0；上位机
- 中图法分类号:
- TP312
- 学位论文附注:
- 硕士学位论文——西安工业大学电子信息工程学院，2016
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