MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：58
- 题名/责任者:
- 数字集成电路功耗与测试综合优化/孙强著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2016
- ISBN及定价:
- 978-7-302-45560-8/CNY46.00
- 载体形态项:
- 208页;23cm
- 个人责任者:
- 孙强 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-研究
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 书目附注:
- 有书目 (第192-208页)
- 提要文摘附注:
- 本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/75 | CN1491460 | - |  内阅图书
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| TN431.2/75 | CN1491461 | - | 未央馆
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| TN431.2/75 | CN1491462 | - | 未央馆
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