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题名/责任者:

现代电子系统软错误/(法) Michael Nicolaidis主编 韩郑生, 毕津顺译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-121-29097-8/CNY59.00

载体形态项:

16, 240页:图;26cm

并列正题名:

Soft errors in modern electronic systems

丛编项:

国防电子信息技术丛书

个人责任者:

尼古拉季斯 (Nicolaidis, Michael) 主编

个人次要责任者:

韩郑生 译

个人次要责任者:

毕津顺 译

学科主题:

电子系统-研究

中图法分类号:

TN103

版本附注:

据Springer US 2011年英文版译

出版发行附注:

由Springer science+business media授权出版

书目附注:

有书目。

提要文摘附注:

本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程，全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势；单粒子效应发生机制与分类；JEDEC标准；门级建模与仿真；电路级和系统级单粒子效应建模与仿真；硬件故障注入；采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路；电路级软错误抑制技术；软件级软错误抑制技术；高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。全书总结了过去，预测了未来趋势，阐述了单粒子的翻转物理机制、建模、软错误抑制技术以及业界和学界的研究成果。

使用对象附注:

本书适用于微电子与固体电子学专业的教师、研究生和本科生，也可供高可靠抗辐射集成电路领域的研究人员和工程技术人员使用。

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