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题名/责任者:

数字系统测试和可测试性设计/(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著 贺海文, 唐威昀译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-111-50154-1/CNY85.00

载体形态项:

XV, 368页:图;24cm

并列正题名:

Digital system test and testable design using HDL models and architectures

丛编项:

电子与嵌入式系统设计译丛

个人责任者:

纳瓦比 (Navabi, Zainalabedin) 著

个人次要责任者:

贺海文 译

个人次要责任者:

唐威昀 译

学科主题:

数字系统-系统测试

中图法分类号:

TP271

一般附注:

华章科技

出版发行附注:

由Springer science+business media授权出版

书目附注:

有书目 (第362-368页)

提要文摘附注:

本书主要论述了数字系统的电路测试以及设计可测试性。本书使用Verilog进行数字电路的设计、测试分析并实现数字系统可测试性。

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