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题名/责任者:

带约束的末制导律与伪谱法轨迹优化/王丽英, 张友安, 黄诘著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-118-09941-6/CNY59.00

载体形态项:

190页:图;23cm

个人责任者:

王丽英 著

个人责任者:

张友安 著

个人责任者:

黄诘 著

学科主题:

制导-研究

中图法分类号:

V448

书目附注:

有书目 (第181-190页)

提要文摘附注:

本书主要讲述了带落角和末端攻角约束的最优末制导律;带落角约束针对静止目标的一般加权最优末制导律；终端多约束条件下针对静止目标的剩余时间末制导律;多约束条件下针对运动目标的偏置比例导引律;轨迹优化的数学模型和多区间伪谱法的基本原理;自适应Radau伪谱轨迹优化算法;基于自适应伪谱法的再入轨迹快速优化与分析;基于hp-Radau伪谱法的再入飞行器实时最优制导方法;Radau伪谱方法的收敛性分析。

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