- 题名/责任者:
- 精密光学元件先进测量与评价/程灏波著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2014
- ISBN及定价:
- 978-7-03-041717-6/CNY85.00
- 载体形态项:
- 277页:图;24cm
- 个人责任者:
- 程灏波 著
- 学科主题:
- 精密光学元件-测量
- 学科主题:
- 精密光学元件-评价
- 中图法分类号:
- TH74
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要针对精密光学元件检测原理与技术进行了全面、详细的介绍，并且追踪了最新的科技前沿技术的原理与应用，紧扣实际应用需求，对检测过程中的关键技术进行了研究。首先对光学元件的质量评价标准做了详细的介绍，包括表面面形误差评价标准、亚表面损伤的评价等。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TH74/8 | CN1435920 | - |  内阅图书
|
阅览 | |
| TH74/8 | CN1435921 | - | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
| TH74/8 | CN1435922 | - | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
| TH74/8 | CN1435923 | - | 未央馆
|
可借 | 未央馆 |
显示全部馆藏信息