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题名/责任者:

测试成熟度模型集成:测试过程改进指南/Erik van Veenendaal, Brian Wells著 李燕 ... [等] 译

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2014

ISBN及定价:

978-7-302-34026-3/CNY29.00

载体形态项:

198页:图;26cm

统一题名:

Test maturity modle integration TMMi

其它题名:

测试过程改进指南

丛编项:

21世纪高等学校规划教材.软件工程

个人责任者:

温尼戴尔 (Veenendaal, Erik van) 著

个人责任者:

韦尔斯 (Wells, Brian) 著

个人次要责任者:

李燕 译

学科主题:

软件-测试-研究-高等学校-教材

中图法分类号:

TP311.5

相关题名附注:

CIP题书名原文：Test maturity modle integration TMMi

责任者附注:

责任者Veenendaal汉译姓: 温尼戴尔; 责任者Wells规范汉译姓: 韦尔斯

书目附注:

有书目 (第197-198页)

提要文摘附注:

本书是TMMi Framework官方英文版的正式授权中文版本。对于测试专家、测试经理、测试过程改进专家和高层管理者，本书都是不可多得的经典参考指南。在使用过程中，测试实践者也可以按照本书的框架，参考最佳实践，更好、更有效率地建立不同行业的测试中心。

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