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题名/责任者:

电阻率测试理论与实践/孙以材，汪鹏，孟庆浩著

出版发行项:

北京:冶金工业出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-5024-5511-8/CNY32.00

载体形态项:

307页;21cm

个人责任者:

孙以材 (1939-) 著

个人责任者:

汪鹏 著

个人责任者:

孟庆浩 著

学科主题:

电阻率-测试

中图法分类号:

O441.1

提要文摘附注:

本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，以作者多年的相应测试实践对电阻率测试中许多理论问题作了深入探讨，具体包括：四探针法电阻率测量基本原理、静电场数值计算有限元方法、范德堡法及其改进法电阻率测量基本原理、鲁美采夫斯基法及其改进法电阻率测量基本原理、电阻率Mapping技术、电阻牢测试的EIT技术、外延片的电阻率测试、接触电阻的测量、电阻率测试的测准条件。

电子资源:

http://mylib.nlc.gov.cn/system/application/search/display/metaDataDisplayRedirectPage.jsp?metaData.id=1113623&metaData.lId=1118503&IdLib=40283415347ed8bd013483174ef60002&sysid=wenjin NLC Digital Resource

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