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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：57

题名/责任者:
光学测试技术/刘承, 张登伟, 张彩妮等编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-121-20194-3/CNY49.90
载体形态项:
311页:图;26cm
个人责任者:
刘承 编著
个人责任者:
张登伟 编著
个人责任者:
张彩妮 编著
学科主题:
光学仪器-测试技术-教材
中图法分类号:
TH740.6
一般附注:
光电信息科学与工程类专业规划教材
书目附注:
有书目
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TH740.6/8 CN1635590   科研专项     借出-应还日期：2294-03-18 科研专项
TH740.6/8 CN1332066  - 内阅图书     阅览
TH740.6/8 CN1332067  - 未央馆     可借 未央馆
TH740.6/8 CN1332068  - 未央馆     可借 未央馆
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