MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：42
- 题名/责任者:
- 基于共焦层析的SSD检测关键技术研究/王会婷著 田爱玲指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2013
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 68页;29cm
- 个人责任者:
- 王会婷 著
- 个人次要责任者:
- 田爱玲 指导
- 非控制主题词:
- 光学元件；亚表层损伤；共聚焦成像；显微光学；HF酸腐蚀法
- 中图法分类号:
- O436
- 学位论文附注:
- 硕士论文——西安工业大学光电工程学院，2013
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