MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：32
- 题名/责任者:
- 条纹扫描法测量薄膜厚度技术研究/石莹著 苏俊宏指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2013
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 55页;29cm
- 个人责任者:
- 石莹 著
- 个人次要责任者:
- 苏俊宏 指导
- 非控制主题词:
- 薄膜厚度；剪切干涉；图像处理；快速傅里叶变换；相位解包
- 中图法分类号:
- O484.5
- 学位论文附注:
- 硕士论文——西安工业大学光电工程学院，2013
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