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题名/责任者:

大口径平面检测的子孔径拼接算法研究/吴世霞著 田爱玲指导

出版发行项:

西安:西安工业大学,2013

ISBN及定价:

缴送

载体形态项:

64页;29cm

个人责任者:

吴世霞 著

个人次要责任者:

田爱玲 指导

非控制主题词:

光学面形检测；子孔径拼接；全局优化拼接算法；大口径光学元件；误差分析

中图法分类号:

TH744.3

学位论文附注:

硕士论文——西安工业大学光电工程学院，2013

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