MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：36
- 题名/责任者:
- 光学元件表面微缺陷可视化检测技术研究/刘鹏著 潘永强指导
- 出版发行项:
- 西安:西安工业大学,2012
- ISBN及定价:
- 缴送
- 载体形态项:
- 57页;29cm
- 个人责任者:
- 刘鹏 著
- 个人次要责任者:
- 潘永强 指导
- 非控制主题词:
- 全反射棱镜；散射；显微成像法；缺陷检测；数字图像处理
- 中图法分类号:
- TN247
- 学位论文附注:
- 硕士论文——西安工业大学光电工程学院，2012
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