MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：37
- 题名/责任者:
- 光电子器件微波封装和测试/祝宁华著
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-03-033004-8 精装/CNY96.00
- 载体形态项:
- xvii, 433页:图;24cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 祝宁华 著
- 学科主题:
- 光电器件-微波技术-封装工艺
- 学科主题:
- 光电器件-微波测量
- 中图法分类号:
- TN15
- 版本附注:
- 本书初版于2007年
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN15/16=2 | CN1293074 | - |  内阅图书
|
阅览 |
| TN15/16=2 | CN1293075 | - | 未央馆
|
可借 |
显示全部馆藏信息