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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:24

题名/责任者:
软件缺陷模式与测试/宫云战 ... [等] 著
出版发行项:
北京:科学出版社,2011
ISBN及定价:
978-7-03-031726-1/CNY56.00
载体形态项:
268页:图;24cm
个人责任者:
宫云战
学科主题:
软件-测试
中图法分类号:
TP311.5
题名责任附注:
本书著者还有:杨朝红、金大海、肖庆、王雅文
书目附注:
有书目 (第265-268页)
提要文摘附注:
本书全面论述了基于缺陷模式软件测试的一般方法, 包括软件缺陷的综合论述、面向C/C++/Java的软件缺陷模式的分类、各种软件缺陷模式的定义、基于缺陷模式的软件测试原理、提高测试精度的区间运算技术、敏感路径分析技术、函数间分析技术等。
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