西安工业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:39

题名/责任者:
The bugbook I : logic & memory experiments using TTL integrated circuits / by Peter R. Rony, David G. Larsen ; with assistance by Robert A. Braden.
出版发行项:
Blacksburg, Virginia : E & L Instruments, Inc., 1975.
载体形态项:
1 v. (various pagings) : ill. ; 22 cm.
变异题名:
Bugbook one
变异题名:
Bugbook 1
个人责任者:
Rony, Peter R.
附加个人名称:
Larsen, David G.
论题主题:
Transistor-transistor logic circuits-Experiments.
论题主题:
Computer storage devices-Experiments.
论题主题:
Integrated circuits-Experiments.
论题主题:
Digital electronics-Experiments.
中图法分类号:
TN609-62
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN609-62/E1 700000606   西文     可借 西文
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架