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题名/责任者:

数字集成电路容错设计:容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误/李晓维[等]著

出版发行项:

北京:科学出版社,2011

ISBN及定价:

978-7-03-030576-3 精装/CNY68.00

载体形态项:

433页;25cm

其它题名:

容缺陷/故障、容参数偏差、容软错误

个人责任者:

李晓维 著

学科主题:

数字集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN431.2

一般附注:

中国科学院科学出版基金资助出版

题名责任附注:

著者还有：胡瑜、张磊、鄢贵海

提要文摘附注:

本书主要内容涉及数字集成电路容错设计的三个主要方面：容缺陷（和故障）、容参数偏差以及容软错误；包括3S技术（自测试、自诊断、自修复）的基本原理。

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