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题名/责任者:

材料分析技术/(新)Sam Zhang，(新)Lin Li，(新)Ashok Kumar著 刘东平[等]译

出版发行项:

北京:科学出版社,2010

ISBN及定价:

978-7-03-029105-9/CNY50.00

载体形态项:

265页:图;24cm

并列正题名:

Materials characterization techniques

个人责任者:

(新) 张善勇 (Zhang, Sam) 著

个人责任者:

(新) Li 著

个人责任者:

(新) Kumar 著

个人次要责任者:

刘东平 译

学科主题:

工程材料-分析方法-研究

中图法分类号:

TB3

题名责任附注:

译者还有：王丽梅、牛金海、于乃森

提要文摘附注:

本书共十一章，分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜、X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、色谱分析、红外光谱及紫外一可见光谱、宏观和微观热分析以及激光共焦荧光显微镜等。

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