MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：23
- 题名/责任者:
- 半导体器件参数测试自动化/(苏)Ю.C.卡尔普著 蔡连超, 程文霖译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1966
- ISBN及定价:
- /CNY0.65
- 载体形态项:
- 168页:图;19cm
- 个人责任者:
- 卡尔普 Ю.C. 苏 著
- 个人次要责任者:
- 蔡连超 译
- 个人次要责任者:
- 程文霖 译
- 中图法分类号:
- TN345
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN345/1 | 041307 |  密集库（507）
|
可借 | |
| TN345/1 | 041308 | 密集库（507）
|
可借 |
显示全部馆藏信息