MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 计量与测试专利文摘.下册/上海科学技术情报研究所编
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,1984
- ISBN及定价:
- /CNY2.32
- 载体形态项:
- 216页:图;24cm
- 团体责任者:
- 上海科学技术情报研究所 编
- 中图法分类号:
- TB9-18
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TB9-18/1-2 | 038930 |  密集库（507）
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可借 | |
| TB9-18/1-2 | 038931 | 密集库（507）
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可借 | |
| TB9-18/1-2 | 038932 | 密集库（507）
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可借 |
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