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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:32

题名/责任者:
SoC设计与测试/(美)Rajsuman,Rochit著 于敦山, 盛世敏, 田泽译
出版发行项:
北京:北京航空航天大学出版社,2003
ISBN及定价:
7-81077-308-9/CNY35.00
载体形态项:
210页:图;26cm
并列正题名:
System-on-a-chip : design and test
个人责任者:
Rajsuman,Rochit 美 著
个人次要责任者:
于敦山
个人次要责任者:
盛世敏
个人次要责任者:
田泽
学科主题:
单片微型计算机-系统设计
学科主题:
单片微型计算机
学科主题:
系统设计
中图法分类号:
TP368.1
一般附注:
并列题名:System-on-a-chip : design and test
题名责任附注:
书名原文:System-on-a-chip : design and test
版本附注:
美国Advantest America R&D Center, Inc.公司授权出版
责任者附注:
R. 雷斯曼[Rochit Rajsuman],在Colorado State University获得电子工程博士学业位后,在Case Weslern Resere University的计算机工程与科学系执教近7年,著有《Digital Hardware Testing》等。
提要文摘附注:
本书分为设计和测试两部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法,在设计部分,介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别,并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计和需要注意的问题。
使用对象附注:
读者对象:ASIC设计工程师及系统设计工程师
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TP368.1/153 CN1729627   资料室密集     可借
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