MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:34
- 题名/责任者:
- SoC设计与测试/(美)Rajsuman,Rochit著 于敦山, 盛世敏, 田泽译
- 出版发行项:
- 北京:北京航空航天大学出版社,2003
- ISBN及定价:
- 7-81077-308-9/CNY35.00
- 载体形态项:
- 210页:图;26cm
- 个人责任者:
- Rajsuman,Rochit 美 著
- 个人次要责任者:
- 于敦山 译
- 个人次要责任者:
- 盛世敏 译
- 个人次要责任者:
- 田泽 译
- 学科主题:
- 单片微型计算机-系统设计
- 学科主题:
- 单片微型计算机
- 学科主题:
- 系统设计
- 中图法分类号:
- TP368.1
- 一般附注:
- 并列题名:System-on-a-chip : design and test
- 题名责任附注:
- 书名原文:System-on-a-chip : design and test
- 版本附注:
- 美国Advantest America R&D Center, Inc.公司授权出版
- 责任者附注:
- R. 雷斯曼[Rochit Rajsuman],在Colorado State University获得电子工程博士学业位后,在Case Weslern Resere University的计算机工程与科学系执教近7年,著有《Digital Hardware Testing》等。
- 提要文摘附注:
- 本书分为设计和测试两部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法,在设计部分,介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别,并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计和需要注意的问题。
- 使用对象附注:
- 读者对象:ASIC设计工程师及系统设计工程师
全部MARC细节信息>>
索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TP368.1/153 | CN1729627 | 资料室密集 | 可借 | |
TP368.1/153 | CN1729628 | 资料室密集 | 可借 | |
TP368.1/153 | CN1729629 | 资料室密集 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578202 | 密集库1 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578204 | 密集库1 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578205 | 密集库1 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578206 | 洪庆校区 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578201 | 内阅图书 | 可借 | |
TP368.1/153 | 578203 | 金花馆 | 可借 |
显示全部馆藏信息