MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：34
- 题名/责任者:
- 电子元器件失效分析及应用/夏泓主编
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1998.2
- ISBN及定价:
- 7-118-01811-2/￥8.00
- 载体形态项:
- 155页;20cm
- 丛编项:
- 可靠性·维修性·保障性丛书.第二批;8
- 个人责任者:
- 夏泓 主编
- 学科主题:
- 电子元件-失效分析
- 学科主题:
- 失效分析-电子元件
- 学科主题:
- 电子器件-失效分析
- 学科主题:
- 失效分析-电子器件
- 中图法分类号:
- TN601
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN601/1 | 248473 |  内阅图书
|
可借 | |
| TN601/1 | 248474 | 未央馆
|
可借 | |
| TN601/1 | 248475 | 未央馆
|
可借 | |
| TN601/1 | 248476 | 未央馆
|
可借 | |
| TN601/1 | 248477 | 金花馆
|
可借 |
显示全部馆藏信息