MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 半导体测量和仪器/(美)鲁尼安,W.R.编著 上海科技大学半导体材料教研室译
- 出版发行项:
- 上海:上海科学技术出版社,1980.7
- ISBN及定价:
- 平装/1.15元
- 载体形态项:
- 322页;20cm
- 个人主要责任者:
- 鲁尼安,W.R. 编著
- 团体次要责任者:
- 上海科技大学半导体材料教研室 译
- 中图法分类号:
- TN307
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN307/1 | 104006 |  内阅图书
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| TN307/1 | 040722 | 密集库
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| TN307/1 | 040723 | 密集库
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| TN307/1 | 104007 | 未央馆
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| TN307/1 | 104008 | 金花馆
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